X射线衍射仪（XRD）
X射线衍射仪仪（XRD）
一、仪器简介
原理：X射线衍射仪（X-Ray Diffractometer）是多晶X射线衍射分析法的基本仪器。X射线从光源发出照射到样品表面，光子与样品中的电子相互作用，符合布拉格衍射条件的晶面产生衍射信号，探测器收集衍射信息后输出XRD衍射谱图（如图二所示），通过软件分析，可以确定物相组成、物相含量、晶粒尺寸、微观应力和择优取向等信息。
|
|
|
|
图一、X射线衍射仪内部光路图 |
图二、刚玉的XRD曲线 |
特点：D8 ADVANCE X射线衍射仪配置了铜靶X光源和能量色散型一维阵列探测器林克斯XE-T，192个子探测器，相比传统XRD提高强度超过200倍。而且，每个子探测器本身的能量分辨率高达380eV，可以彻底解决Mn、Fe、Co、Ni的荧光噪音问题，大幅度提高整机信噪比。同时，380eV的能量分辨率，可以直接去除Cu Kβ，而无需加入Ni滤片。强度更高的同时没有Kβ吸收边对峰形的影响，提供更高质量的数据。
测试样品种类：包括各种粉末、块体和薄膜材料（毫米级别厚度）等。
二、主要性能参数
- X射线发生器最大输出功率：3kW
- X射线光管：Cu靶，2.2 kW
- 2θ测试范围：0.3o≤2θ≤168o
- 可读最小步长：0.0001o
- 探测器类型：半导体阵列探测器，192个子探测器
- 探测器能量分辨率：380eV
三、仪器功能
- 多晶样品的物相分析
- 多晶样品的无标样定量分析
- 多晶样品的非晶相含量定量分析
- 多晶样品的结构精修
- 晶粒尺寸，微观应力和择优取向等微结构分析
- 结晶度测定
- 残余奥氏体测试
- 指标化等
举例1：多晶样品物相分析
|
|
|
图三、样品中含有氧化锌、氟化钙、氢氧化镁和刚玉这四种物相。 |
举例2多晶样品无标定量分析
|
|
|
图四、样品中刚玉、氟化钙和氧化锌的含量分别为5.69%、1.37%和92.94%。 |
